09 / SuperView W3 | Profilomètre optique de surface 3D

Marque :

Prix sur demande

SuperView W3

Description du produit :

Projecteur optique de surface 3D.

Documentation
technique

Caractéristiques principales

Fonctions :

Mesure du profil des tanchées après rainurage laser lors du processus de découpe.

Mesure de la hauteur de marche de film sur wafer dans une plage de 1 mn à 1 mm.

Mesure de la rugosité de feuilles de silicium après processus de meulage, avec mesure de plusieurs zones et calcules de la valeur moyenne en un clic.

Support des wafers 6″, 8″, et 12″, avec changement automatique des 3 tailles de mandrins à vide en un clic.

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